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產品資料
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顯微圖像分析儀恒奧德

]資料
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產品名稱: 顯微圖像分析儀恒奧德
產品型號: CJ-JX2000A/B
產品廠商: 恒奧德
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
    

顯微圖像分析儀恒奧德 CJ-JX2000A型: 應用范圍:配置透射顯微鏡,適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、嶺土、硬質合金、催化劑、燃料、**、云母粉、耐火材料、填料、石墨、顏料等各種粉末物料,玻璃纖維,礦巖成分判斷(偏光)。

顯微圖像分析儀恒奧德 的詳細介紹
顯微圖像分析儀恒奧德

顯微圖像分析儀 型號:CJ-JX2000A/B

 

CJ-JX2000A型:
應用范圍:
配置透射顯微鏡,適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、嶺土、硬質合金、催化劑、燃料、**、云母粉、耐火材料、填料、石墨、顏料等各種粉末物料,玻璃纖維,礦巖成分判斷(偏光)。
CJ-JX2000B型:
應用范圍:配置透反射顯微鏡,適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析;還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透光的物體表面結構的觀察測試。
  產品簡介:


主要性能:光學顯微鏡放大成像,業攝像頭,速分辨率圖像采集卡,圖像動態快速顯示于電腦,直接觀察粉體顆粒的形貌,用軟件行粒度分析。平場消色差物鏡,*分辨率0.07微米,*光學放大倍數1600倍,圖像顯示和打印*倍數4000倍(A4幅面)。

測量范圍:
0.5μm~2000μm

測量方法:
透射:將樣品置于載玻片上,運行用軟件,由電腦分析處理,計算數據。
            反射:將樣品置于物鏡下方,運行用軟件,由電腦分析處理,計算數據。

分析軟件:
提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積等分布數據。同時提供D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等數據,配有多種圖像分析和處理能,可以滿足各種圖像處理需要。

圖像分析處理:
  
1.色調處理:負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整;
  2.圖像矯正:水平鏡像、垂直鏡像、90度(逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小、意比例縮放等;
  3.測量單位:微米、毫米、厘米、英吋選;
  4.圖像增強:對比度均衡、膨脹、腐蝕等;
  5.圖像處理:圖像銳化,邊緣平滑,二值化,邊界濾波,分析目標擦除、孔洞填充,手擦除,手連接,粒子屬性查看、設置標尺、網格等能;
  6.分析參數:
  (1)幾何參數:每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置,像素;
  (2)當量幾何參數:等面積圓直徑,等周長圓直徑,長徑,短徑,長徑比;
  (3)外接幾何參數:每個顆粒的外接圓直徑;
  (4)光密度參數:圖像 R、G、B、灰度分布;
  (5)形態學參數:長徑比,圓度系數;


測量結果:
顆粒形貌可存盤打印,還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業殊要求,*磨料、
硅灰石等用軟件。

處理能圖示:
圖像采集:可調整圖像度、寬度、分辨率等。
附圖:各種粉末顆粒圖像(透射)
附圖:各種金相圖(反射):
像處理前:                       圖像處理后:
 
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